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多層陶瓷電容(MLCC)中的缺陷用x-ray來檢測
發布時間:2020-10-18 09:20:34

MLCC就是一種電容器,但比一般電容要復雜,全稱為多層陶瓷電容器。

 

既然是電容器,那么首先它就具有電容的一般功能,也就是通過靜電的形式儲存和釋放電能,在兩極導電物質間以介質隔離,并將電能儲存其間,主要作用為電荷儲存、交流濾波或旁路、切斷或阻止直流、提供調諧及振蕩等。

 

電容器是一種能夠儲藏電荷的元件,也是最常用的電子元件之一,其廣泛應用于通訊設備、醫療設備、汽車電子和航空、航天軍用等領域,隨著信息技術和電子設備的快速發展,電容器需求呈現出整體上升態勢。

 

在產品正常使用情況下,MLCC 失效的根本原因是外部或內部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產品的電性能、可靠性,給產品質量帶來嚴重的隱患。

 

MLCC的特點是能夠承受較大的壓應力,但抵抗彎曲能力比較差。器件組裝過程中任何可能產生彎曲變形的操作都可能導致器件開裂。常見應力源有:貼片對中,工藝過程中電路板操作;流轉過程中的人、設備、重力等因素;通孔元器件插入;電路測試、單板分割;電路板安裝;電路板定位鉚接;螺絲安裝等。該類裂紋一般起源于器件上下金屬化端,沿45℃角向器件內部擴展,該類缺陷也是實際發生最多的一種類型缺陷。

 

在許多多層陶瓷電容(MLCC)的組裝過程中,電極層和位于其上方的陶瓷生片的底部之間可能會積聚一些空氣。這些空氣填充的孔隙(氣泡/氣孔)可能在燒結后仍然存在,并且可能存在于已經投入使用的電容中。

 

這種氣泡/氣孔對非常薄的電極幾乎沒有影響,但是氣泡/氣孔的存在會使電容的機械強度變弱。電路板安裝的應力可能導致最靠近氣泡/氣孔的陶瓷介電層產生裂紋,回流過程中由于加熱和冷卻而產生的熱應力也會導致裂紋產生。正常使用中的熱循環也可能形成裂紋或者使已經存在的裂紋擴大。

 

這樣的裂紋可以保持相對無害,直到其中一個裂紋延伸過介電陶瓷片達到另一個電極,并在兩個電極之間形成導電通路引起短路,使MLCC發生故障。在低壓MLCC中,短路會中斷電路功能,對系統的影響可大可小。而高壓MLCC由于其存儲的能量高,因此可能會發生爆炸。

 

對于外部缺陷,通常采用顯微鏡下人工目測法或自動外觀分選設備。而內部微小缺陷一直是MLCC檢測的難點之一,它嚴重影響到產品的可靠性,卻又難以發現。X射線無損檢測能夠更精確地檢測出MLCC內部的缺陷,從而分選出不良品,提高MLCC的擊穿電壓與高壓可靠性。

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x-ray檢測設備是通過高壓加速電子撞擊金屬板釋放出的x-ray穿透樣品,留下影像,技術人員通過影像的明暗度來觀測樣品的相關細節,在不損壞被檢物品的前提下,快速檢測出被檢物品的缺陷。




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