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x射線平板探測(cè)器的工作原理及優(yōu)缺點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間:2020-09-24 09:08:00

1碘化銫

1一般原理:首先將X射線通過(guò)熒光介質(zhì)材料轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光,然后通過(guò)光敏元件將可見(jiàn)光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),**通過(guò)A / D將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。具體原理:曝光之前,陽(yáng)離子被存儲(chǔ)在硅表面上以產(chǎn)生均勻的電荷,從而在硅表面上產(chǎn)生電子場(chǎng);

2.曝光期間,在硅中產(chǎn)生電子-空穴對(duì),并向表面釋放自由電子,從而在硅表面產(chǎn)生了潛在的電荷像,并且每個(gè)點(diǎn)的電荷密度等于局部X射線強(qiáng)度。

3.曝光后,X射線圖像存儲(chǔ)在每個(gè)像素中;

4.半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換器讀取每個(gè)元素并完成模數(shù)轉(zhuǎn)換。

優(yōu)點(diǎn):

1. 轉(zhuǎn)換效率高;

2.動(dòng)態(tài)范圍廣;

3.高空間分辨率;

4.在低分辨率區(qū)域具有較高的X射線吸收率(因?yàn)槠湓有驍?shù)高于非晶硒的原子序數(shù));

 5.環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)。

缺點(diǎn):

1. 高劑量DQE不如無(wú)定形硒。

 2.由于熒光轉(zhuǎn)換層而引起的輕微散射效應(yīng);

3.清晰度相對(duì)于非晶態(tài)硒略低。

日聯(lián)X射線平板探測(cè)器

2)非晶硒型

一般原理:光電導(dǎo)半導(dǎo)體將接收到的X射線光子直接轉(zhuǎn)換為電荷,然后通過(guò)薄膜晶體管陣列將電信號(hào)讀出并數(shù)字化。

具體原理:

1. X射線入射光子激發(fā)非晶硒層中的電子-空穴對(duì);

2.電子和空穴在外部電場(chǎng)的作用下以相反的方向移動(dòng)以產(chǎn)生電流。電流的大小與入射的X射線有關(guān)。光子數(shù)成正比;

3.這些電流信號(hào)被存儲(chǔ)在TFT的電極間電容上,并且每個(gè)TFT和電容形成像素單元。

優(yōu)點(diǎn):

1. 轉(zhuǎn)換效率高;

2.動(dòng)態(tài)范圍廣;

3.高空間分辨率;

4.清晰度好;

缺點(diǎn):

1. X射線吸收率低,在低劑量條件下不能保證圖像質(zhì)量。增加X(jué)射線劑量不僅會(huì)增加疾病來(lái)源射線吸收了,對(duì)了X射線系統(tǒng)要求太高。

 2.硒層對(duì)溫度敏感,使用條件有限,環(huán)境適應(yīng)性差。

(三)CCD型

一般原理:增強(qiáng)屏幕用作X射線交互介質(zhì),并添加CCD以數(shù)字化X射線圖像。

具體原理:以MOS電容器類(lèi)型為例:在P型Si的表面形成一層SiO2,然后在其上蒸鍍一層多晶硅作為電極,并在P-上施加電壓。電極的Si型襯底,以在電極A的低勢(shì)能區(qū)或勢(shì)阱下形成它。勢(shì)阱的深度與電壓有關(guān)。電壓越高,勢(shì)阱越深。光生電子存儲(chǔ)在勢(shì)阱中。光生電子的數(shù)量與光的強(qiáng)度成正比。因此,存儲(chǔ)的電荷量也反映了該點(diǎn)的亮度。存儲(chǔ)在數(shù)百萬(wàn)個(gè)感光單元中的電荷形成與該圖像相對(duì)應(yīng)的電荷圖像。

優(yōu)點(diǎn):

1.高空間分辨率;

2.幾何變形小;

3.均勻性好。


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